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    HSL1少子壽命分析儀
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    HSL1少子壽命分析儀

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    商品描述
    HSL1少子壽命分析儀

    功能特點

    測試原理采用國際公認的微波反射光電導衰退法擁有國家發明專利(專利號:ZL2003 1 0108310.7

    選用脈沖能量充足、波長適合的專業激光器為激發源,性能可靠穩定

    方便直觀的操作過程,步驟簡單

    主要參數

    測試范圍和精度

    可測試材料

    硅片或塊狀硅材料

    擴散形成P-N后的太陽電池(無金屬電極)

    少子壽命測試范圍

    (1~1000)μs

    電阻率測試范圍

    ≥0.1Ω·cm

    測試不重復度

    ≤5%(測試條件不變時)

    測試速度

    2/

    機械參數

    微波源

    10Kg; 465mm()*230mm()*470mm()

    工控機

    20Kg; 500mm()*400mm()*170mm()

    脈沖激光源

    10Kg; 350mm()*130mm()*450mm()

    使用要求

    供電

    220VAC±10%, 20A, 50/60Hz,單相電


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